English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(513)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(591)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(490)
Новости Tektronix(199)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(135)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Научно-практическая конференция National Instruments - 2012

Научно-практическая конференция National Instruments - 2012

03.10.2012

XI международная научно-практическая конференция "Инженерные и научные приложения на базе технологий National Instruments – 2012" пройдет 6-7 декабря 2012 года в Конгресс-центре МТУСИ по адресу: Москва, ул. Авиамоторная, дом 8а, начало в 9:00.

Традиционно конференция соберет более 400 руководителей предприятий, инженеров, профессоров, научных сотрудников и студентов со всей России, стран СНГ и Балтии. Организаторами конференции выступят филиал корпорации National Instruments в России, СНГ и Балтии и Российский университет дружбы народов.

На конференции будут представлены работы, посвященные применению инновационных технологий National Instruments при решении промышленных, образовательных и научных задач, а также рассмотрены преимущества использования современного оборудования и программного обеспечения National Instruments.

В рамках конференции пройдет ряд мероприятий, начиная от пленарных заседаний, технических презентаций, секционных докладов, мастер-классов, дискуссий с экспертами, заканчивая выставкой и награждением авторов докладов, заслуживающих особого внимания.

В программе конференции:

- Пленарные выступления, участники смогут услышать о последних тенденциях в промышленности, а также успешных проектах в области научных исследований.
- Тематические секции, участники конференции представят коллегам свои решения и наработки в области инженерных приложений, образования и научных исследований. В рамках секций участники смогут услышать более 100 докладов о применении LabVIEW и технологий NI.
- Технические саммиты, на технических саммитах специалисты NI расскажут участникам о новинках и планах о развитии линеек приборов.
- Интерактивные мастер-классы, которые предназначены для получения навыков и отработки различных приемов при работе с оборудованием.
- Выставка решений, автоматизированных стендов, ярких примеров использования технологий National Instruments.

Более подробно о конференции

Также возможно участие с докладом. Тезисы докладов принимаются до 15 октября, доклады до 12 ноября 2012 г.
Более подробная информация для докладчиков.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2019
КИПиС 2019 № 6
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.01.1736
день рождения