English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Сотрудничество Agilent Technologies с компанией Thales позволило применить технологию X-параметров в проектировании ВЧ систем

Сотрудничество Agilent Technologies с компанией Thales позволило применить технологию X-параметров в проектировании ВЧ систем

04.10.2012

X-параметры представляют собой совершенно новый вид описания нелинейных цепей, используемый для проектирования ВЧ устройств. Они позволяют инженерам точно описывать линейные и нелинейные компоненты, схемы и системы для быстрого и надежного поведенческого моделирования, что жизненно важно для проектирования высококачественных ВЧ модулей и "систем в корпусе". X-параметры могут создаваться на основе моделирования в САПР Agilent Advanced Design System или на основе данных, полученных от контрольно-измерительных приборов Agilent, и использоваться для ускорения разработки средств связи.

Сотрудничество Agilent с Thales в сфере нелинейных поведенческих моделей началось в 2005 году. Основной целью этого сотрудничества для компании Thales было применение этой технологии для проектирования ВЧ устройств. В результате компания Thales успешно разработала методику анализа паразитных составляющих с использованием моделей на основе X-параметров.

Методика компании Thales поддерживает произвольные топологии и проверена на ВЧ системах с однократным преобразованием частоты. Последующий анализ паразитных составляющих таких систем дал отличные результаты.

"Мы гордимся нашим многолетним сотрудничеством с компанией Agilent, поскольку концепция X-параметров получает все более широкое признание во всей отрасли, – сказал Жан Поль Мартино (Jean Paul Martinaud), менеджер по моделированию оборудования систем оборонного назначения компании Thales. – Мы смогли расширить применение X-параметров на моделирование приемников с однократным преобразованием частоты, что традиционно выполнялось с помощью обычных нелинейных поведенческих моделей. Мы надеемся на успешное продолжение нашего сотрудничества и стремимся к дальнейшему расширению применения X-параметров на более сложные системы".

"Являясь первооткрывателем X-параметров, компания Agilent продолжает вносить инновации в эту технологию, реагируя на вновь возникающие проблемы в сфере нелинейного моделирования и измерений, – сказал Джо Чивелло (Joe Civello), менеджер по САПР ADS компании Agilent. – Наше сотрудничество с компанией Thales доказало концептуальную верность этой технологии и дополнительно укрепило ее положение в качестве фактического промышленного стандарта".


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения