English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Промышленный саммит National Instruments

Промышленный саммит National Instruments

16.11.2018

Компания National Instruments приглашает на ежегодную конференцию, посвященную технологиям для построения автоматизированных систем тестирования, управления и мониторинга. На протяжении 15 лет конференция носила название NIDays, в этом году представляется ее обновленный формат - Промышленный саммит National Instruments!

Дата: 30 ноября 2018 г.

Место проведения: г. Москва, пл. Европы, д.2 (ст. м. Киевская кольцевая), гостиница "Рэдиссон Славянская".

В программе конференции – 3 технических сессии:

  • Авиация и космос
  • Научные исследования и образование
  • Автоматизированные измерения и тестирование

В рамках сессий специалисты и альянс-партнеры National Instruments расскажут о новом оборудовании компании, а приглашенные докладчики поделятся опытом внедрения решений NI на предприятиях и в учебных заведениях страны.

В рамках Промышленного саммита National Instruments пройдет выставка, на которой будут представлены лучшие демо-стенды, созданные инженерами NI.

Подробнее о конференции

Зарегистрироваться!

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"