English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(532)
Новости Anritsu(114)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(612)
Новости Metrel(20)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(79)
Новости Rohde & Schwarz(517)
Новости Tektronix(207)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(103)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар Keysight «Разработка и тестирование устройств Интернета вещей (IoT)»

Семинар Keysight «Разработка и тестирование устройств Интернета вещей (IoT)»

19.11.2018

Компания Keysight приглашает принять участие в семинаре «Разработка и тестирование устройств Интернета вещей (IoT)», который пройдет 29 ноября 2018 в Томске.

Семинар поможет более эффективно решать проблемы, стоящие перед разработчиками устройств IoT на уровне компонентов, схем и систем, благодаря точным и надежным измерительным решениям, позволяющим сократить сроки вывода продуктов на рынок и способствующим их успешному внедрению.

Основное внимание в ходе сессий семинара будет уделено самым современным решениям Keysight, охватывающим все этапы разработки, от моделирования до сертификации, а также ключевым аспектам тестирования, которые могут помочь сэкономить время и средства. В ходе семинара будут работать тематические стенды, на которых вы сможете пообщаться со специалистами Keysight, которые помогут вам в решении задач разработки и тестирования устройств Интернета вещей.

В ходе семинара будут рассматриваться следующие темы:

  • Анализ тока нагрузки аккумуляторной батареи
  • Средства обеспечения целостности сигналов и питания
  • Решения для тестирования средств беспроводной связи: вопросы передачи данных и ЭМС/ЭМП

Читайте подробнее о программе мероприятия, а также об условиях участия по данной ссылке.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
09.08.1776
Родился итальянский ученый, физик и химик