English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

National Instruments приглашает принять участие в NI FriDAY – дне, посвященном обзору новых технологических решений компании

National Instruments приглашает принять участие в NI FriDAY – дне, посвященном обзору новых технологических решений компании

26.03.2014

Мероприятие пройдёт 4 апреля 2014 г., 09:00 – 18:00.

Место: г. Нижний Новгород, ул. Нестерова, 31, Торгово-промышленная палата Нижегородской области

В программе мероприятия обзор технологий NI, применяемых при технической модернизации:

  • предприятий и промышленных объектов;
  • образовательных учреждений.

В течение всего дня будет проходить выставка, среди стендов которой:

  • MIMO система
  • Стенд по тестированию радиостанций
  • Стенд по исследованию диаграммы направленности антенн
  • Универсальная приемо-передающая платформа USRP. Имитация базовой станции
  • Образовательная платформа NI Elvis
  • Образовательная платформа NI MyRIO
  • Система АСУ
  • Промышленный контроллер с ПЛИС (IP-67)
  • Система технического зрения
  • Система мониторинга (тензо- вибродиагностика) с управлением по GSM

План мероприятия, подробную программу, а также форму онлайн регистрации можно найти по следующей ссылке.

National Instruments
Nationa Instruments LabVIEW


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии