English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар National Instruments «Эффективные решения для разработки и тестирования радиоэлектронной аппаратуры»

Семинар National Instruments «Эффективные решения для разработки и тестирования радиоэлектронной аппаратуры»

22.03.2019

Компания National Instruments приглашает на семинар, посвященный эффективным решениям для разработки и тестирования радиоэлектронной аппаратуры, который пройдет 29 марта 2019 г. в Нижнем Новгороде.

Мероприятие пройдет по адресу: ул. Минина, д. 24, корпус 1, этаж 3, аудитория 1313.

В программе семинара:

  • Подход NI к проектированию, макетированию и тестированию радиосредств;
  • Передовые системы тестирования узлов РЭА и испытаний радиоэлектронных систем;
  • Специальные решения NI и компаний-партнеров для тестирования ЭКБ;
  • Образовательная программа National Instruments;
  • Ускорение разработок радиосистем с системами SDR;
  • Платформа NI FlexRIO: новая архитектура для современных радиосистем;

Ознакомиться с полной программой мероприятия можно по данной ссылке.

Для участия в семинаре необходимо зарегистрироваться.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"