English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(486)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(563)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(463)
Новости Tektronix(194)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(130)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар «Технологии National Instruments для разработки, прототипирования и испытания радиотехнических систем»

Семинар «Технологии National Instruments для разработки, прототипирования и испытания радиотехнических систем»

18.03.2019

Семинар «Технологии National Instruments для разработки, прототипирования и испытания радиотехнических систем» пройдет 27 марта 2019 г.

Место проведения: г. Ижевск, ИжГТУ им. М.Т. Калашникова, ул. Студенческая д. 48 (корпус 2), ауд. 233.

В программе семинара:

  • Обзор новейших программных и аппаратных технологий NI для радиоизмерений и программно-определяемых радиосистем
  • Решения для прототипирования и валидации интеллектуальных радиотехнических систем;
  • Автоматизированный параметрический и функциональный контроль РЭА;
  • Платформы программно-определяемого радио для использования в разработке собственных радиосредств.

Полную программу семинара можно посмотреть по данной ссылке.

www.ni.com


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 2 Апрель 2019
КИПиС 2019 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.05.1686
День рождения
24.05.1544
День рождения