English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(506)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(582)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(484)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(88)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keysight приглашает на семинар, посвященный тестированию параметров материалов и полупроводниковых устройств

Компания Keysight приглашает на семинар, посвященный тестированию параметров материалов и полупроводниковых устройств

01.11.2019

Семинар "Тестирование параметров материалов и полупроводниковых устройств" Keysight Technologies пройдет в Москве 7 ноября 2019 г. и будет включать в себя две параллельные сессии. Ко вниманию участников будут представлены доклады технических экспертов Keysight Technologies и партнеров компании. Имеется возможность составления своего индивидуального расписания.

Сессия 1 будет посвящена тестированию СВЧ полупроводниковых приборов, анализу параметров материалов.
Сессия 2 - тестированию полупроводниковых устройств по постоянному току, измерению параметров ВАХ и ВФХ.

Специальными гостями семинара будут эксперты компании FormFactor - Штефен Грауэр и Гэвин Фишер, которые выступят с докладами о решениях для измерения параметров полупроводниковых устройств на пластине, в том числе для испытаний изделий на основе GaN и SiC.

Для участия необходимо заполнить и направить в компанию Keysight Technologies заявку. Форма заявки и подробная программа семинара представлены на сайте Keysight по данной ссылке.

www.keysight.com


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала