English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(535)
Новости Anritsu(115)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(617)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(85)
Новости Rohde & Schwarz(521)
Новости Tektronix(209)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(105)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

NI объявила о выпуске самой мощной целевой платформы для LabVIEW на базе ПЛИС Virtex 5

NI объявила о выпуске самой мощной целевой платформы для LabVIEW на базе ПЛИС Virtex 5

15.10.2008

Компания National Instruments объявила о выпуске двух новых модулей ввода/вывода R-серии для платформ PXI, которые позволят специалистам достичь нового уровня производительности аппаратной реализации цифровой обработки сигналов. Представленные модули являются готовым коммерческим оборудованием, программируемым в NI LabVIEW FPGA Module и предназначены для реализации пользовательских алгоритмов обработки сигналов, для анализа данных “на лету” и детерминированного управления вводом/выводом сигналов в приложениях, требующих специализированных возможностей запуска и синхронизации.

Благодаря большому количеству вентилей в программируемых интегральных логических схемах (ПЛИС), специалисты смогут увеличить объем встраиваемой логики в модулях R–серии и реализовать на аппаратном уровне такие функциональные возможности, как различные алгоритмы управления, пользовательскую обработку данных и протоколы цифровой связи. В приложениях для управления, специалисты смогут увеличить число одновременно исполняемых циклов и функциональную сложность систем управления. В приложениях для динамических испытаний разработчики смогут увеличить тестовое покрытие за счет использования ПЛИС, формируя сигналы в реальном времени для подачи на испытуемое изделие. Кроме того, специалисты смогут применять оборудование R-серии в своих системах сбора данных для реализации алгоритмов фильтрации, анализа сигналов в частотной области и сжатия данных.

Модуль NI PXI-7853R оснащен ПЛИС Xilinx Virtex-5 LX85 с 3 млн. логических вентилей, позволяющей добиться увеличения ресурсов программируемой логики более чем на 80 процентов по сравнению с предыдущими моделями, и таким образом значительно повысить производительность цифровой обработки сигналов. Плата NI PXI-7854R создана на базе еще более производительной ПЛИС Virtex-5 LX110 с 3 млн. логических вентилей, обеспечивающей расширение ресурсов программируемой логики более чем в 2,5 раза по сравнению со своими предшественниками. Уже сейчас специалисты смогут применять большие ПЛИС для увеличения объема встраиваемого кода LabVIEW, не имея при этом опыта проектирования систем цифровой электроники, а также не обладая глубокими знаниями языков описания цифровой аппаратуры. Кроме того, в ПЛИС Virtex-5 реализованы шестивходовые таблицы соответствия (LUT) в основном для оптимизации использования ресурсов, а также процессорные секции для цифровой обработки сигналов (DSP slices), позволяющие пользователям внедрять более сложные DSP алгоритмы значительно быстрее.

Модули NI PXI-7853R и NI PXI-7854R имеют восемь аналоговых входов с независимыми частотами дискретизации до 750 кГц, а также восемь аналоговых выходов с возможностью независимого формирования на частоте до 1 МГц. В каждом модуле имеется до 96 цифровых линий, которые можно использовать в качестве входных, выходных, счетчиков, а также для реализации пользовательских каналов передачи данных на частотах до 40 МГц.

Для получения более подробной информации, в том числе ознакомления с описаниями, веб презентациями и статьями, посвященными новым модулям R-серии, читатели могут посетить страничку www.ni.com/rseries.


О компании:  NI

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
21.09.1801
Родился немецкий и русский физик, академик