English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания National Instruments представила дополнительные возможности интеграции для Multisim и LabVIEW

Компания National Instruments представила дополнительные возможности интеграции для Multisim и LabVIEW

16.10.2008

Компания National Instruments объявила о дальнейшей интеграции платформ Multisim и LabVIEW. Благодаря интеграции недавно вышедшего Multisim 10.1 и LabVIEW, специалисты смогут точнее определять и анализировать поведение схем и детектировать ошибки еще на ранних стадиях разработки. Кроме того, с использованием бета версии NI LabVIEW Multisim Connectivity Toolkit, разработчики смогут улучшить реализацию своих проектов.

NI Multisim делает возможным интерактивное создание принципиальных схем и моделирование их функциональных возможностей в интуитивно понятной графической среде. Поскольку Multisim позволяет абстрагироваться от сложного SPICE-моделирования, разработчикам теперь не обязательно осуществлять глубокий анализ SPICE, для быстрой разработки и анализа новых схем. С помощью новых средств моделирования, разработчики допускают меньше ошибок и достигают быстрейшего создания проектов с меньшим количеством итераций.

По словам генерального директора National Instruments Electronics Workbench Group Винсента Аккарди, интеграция Multisim и LabVIEW позволяет достичь значительного увеличения производительности профессиональных разработчиков. “Благодаря установлению жесткой связи между разработкой и тестированием проектов, мы смогли предотвратить образование своеобразного разрыва между программным обеспечением и аппаратной частью, и в дальнейшем сократить количество ошибок и шагов, необходимых для реализации конечного продукта, обеспечивая специалистов необходимыми инструментами для создания революционных концепций и достижения успеха,” – заявил он.
В Multisim 10.1 реализованы новые возможности профессиональной разработки, нацеленные также на модернизацию процесса моделирования, улучшению совместимости с моделями PSpice и базой данных из 300 новых компонентов лидирующих производителей, таких как Analog Devices и Texas Instruments. Среда Multisim 10.1 также обладает автоматизированным интерфейсом прикладного программирования (API) в помощь разработчикам для автоматизации моделирования в COM-ориентированных языках программирования.

Бета версия LabVIEW Multisim Connectivity Toolkit, которая была встроена в Multisim 10.1, позволила теснее интегрировать возможности схемного проектирования Multisim и измерительной платформы LabVIEW. При помощи нового тулкита, разработчики смогут увеличить производительность проектирования благодаря автоматизации схемного моделирования и высокой степени корреляции между поведением смоделированного проекта и тестированием реального прототипа. Увеличение производительности позволяет преодолеть затратные по времени и стоимости неточности в моделировании проекта. LabVIEW Multisim Connectivity Toolkit сочетает в себе возможности автоматизации и делает возможным их реализацию в LabVIEW, обеспечивая быстрое подключение, как для моделирования проектов, так и при проведении реальных измерений. Используя единую среду тестирования, специалисты смогут осуществлять сбор данных полученных как при моделировании проекта, так и при тестировании функционально законченного реального изделия, снижая таким образом время и стоимость разработки при помощи систематического подхода для эталонного создания макетов.

Благодаря наличию более 80 функций в представленном тулките, специалисты получают возможность запускать, останавливать процесс моделирования одновременно просматривая проект в LabVIEW и меняя номиналы элементов, входящих в состав схемы. Тесная интеграция между Multisim и LabVIEW позволяет еще больше снизить время разработки, благодаря автоматизации передачи файлов между средами.

Multisim 10.1 может быть заказан в полной версии, включающей в себя интегрированную платформу для измерений и разработки, с встроенными средствами проектирования печатных плат в NI Ultiboard 10.1. Сейчас Multisim 10.1 поставляется в английской, немецкой и японской версиях. Пользователи могут скачать бета версию тулкита бесплатно, перейдя по ссылке www.ni.com/labs.


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.10.1608
Родился итальянский математик и физик, ученик Галилея