English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Agilent Technologies приглашает на Симпозиум Тестирование в оборонной и аэрокосмической промышленности

Agilent Technologies приглашает на Симпозиум Тестирование в оборонной и аэрокосмической промышленности

23.03.2013

Компания Agilent Technologies Inc. приглашает на ежегодный Симпозиум "Тестирование в оборонной и аэрокосмической промышленности". В этом году Симпозиум пройдет в Москве, 02 апреля, и в Ростове-на-Дону, 04 апреля. В ходе мероприятия эксперты Agilent Technologies познакомят слушателей с новейшими контрольно-измерительными технологиями, используемыми для решения самых сложных задач, возникающих при разработке и тестировании современных электронных систем.

Доклады, представленные на Симпозиуме, будут посвящены построению контрольно-измерительных систем для аэрокосмических и оборонных приложений, а также тестированию в области телекоммуникаций, спутниковой связи, радиолокационной и антенной техники.

К участию в Симпозиуме приглашаются инженеры и технические руководители, отвечающие за разработку, тестирование и поддержку военных коммуникационных систем и оборудования.

Темы Симпозиума 2013

  1. Использование серийно выпускаемого оборудования для создания и анализа испытательных сигналов, имитирующих среду с несколькими излучателями
  2. 100% вероятность обнаружения случайных и нестационарных сигналов с низким уровнем мощности и длительностью от 3,57 мкс
  3. Особенности формирования импульсных сигналов
  4. Фазово-когерентные измерения параметров фазированных антенных решеток с помощью дигитайзеров
  5. Оптимизация измерения коэффициента шума на кремниевой пластине на частотах до 67 ГГц

Для участия в Симпозиуме необходимо зарегистрироваться. Подробная информация на сайте www.agilent.ru/find/russia_events.

Agilent Technologies


О компании:  Keysight Technologies

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения