English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(414)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(501)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(239)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(378)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(86)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Бесплатный семинар «Стробоскопический осциллограф DSA8200 от компании Tektronix и его применение»

Бесплатный семинар «Стробоскопический осциллограф DSA8200 от компании Tektronix и его применение»

29.04.2009

ЗАО «НПП «ЭЛИКС», официальный дистрибьютор компании Tektronix International Inc. в России, приглашает Вас на бесплатный семинар «Стробоскопический осциллограф DSA8200 от компании Tektronix и его применение» с демонстрацией стробоскопического осциллографа DSA8200 c модулями.

Семинар адресован разработчикам современных ВЧ-устройств, печатных плат, кабелей, разъемов, а также инженерам и научным работникам, интересующимся вопросами измерений и тестирования последовательных высокоскоростных линий связи.

Семинар состоится 15 мая 2009 года (пятница), 10:00-14:00 в Москве.

Семинар проведет технический консультант компании Tektronix Тадеуш Асингер.

Программа семинара

10:00 - 10:30
Области применений стробоскопического осциллографа DSA8200.

10:30 - 11:00
Основные характеристики DSA8200 и обзор существующих модулей к нему. Отличие стробоскопического осциллографа от осциллографа реального времени.

11:00 - 11:45
Анализ потоков данных на скоростях свыше 10 Гбит./c, проведение дифференциальных рефлектометрических измерений и измерений импеданса и S-параметров в полосе до 50 ГГц. Основные отличия между измерениями S-параметров с помощью стробоскопического осциллографа и анализатора цепей.

12:00 - 12:30
Измерения джиттера, шума и анализ уровня битовой ошибки BER в последовательных шинах.

12:30 - 13:00
Анализ соединений в последовательных шинах.

13:00 - 13:30
Обзор оптических модулей и тестирование оптических передатчиков.

13:30 - 14:00
Вопросы и ответы.

Зарегистрироваться для участия в бесплатном семинаре можно на сайте компании ЭЛИКС и по тел. (495) 781-49-69 (многоканальный). После регистрации Вам будет выслан адрес и схема проезда. Количество участников ограничено. Работает буфет.



Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 3 Июнь 2017
КИПиС 2017 № 3
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений