English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(414)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(501)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(239)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(378)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(86)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Международный семинар "Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений"

Международный семинар "Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений"

04.05.2009

Очередной 5-й международный семинар "Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений" состоится в июне 2009 г. - в год празднования 175-летия со дня рождения основателя научной метрологии Д.И.Менделеева.

Снминар будет проходить с 30 июня по 2 июля 2009 г. в Санкт-Петербурге, Россия.

Организаторы семинара: ГНЦ РФ "ВНИИМ им Д.И.Менделеева", КООМЕТ.

В рамках этого семинара состоятся следующие мероприятия:

  • Пятый международный научный семинар "Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений"
  • 7-е заседание НТКМетр по внедрению оценки неопределенности
  • 7-е заседание ТК1.1 КООМЕТ "Общие вопросы измерений"


Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2017
КИПиС 2017 № 3
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений