English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(533)
Новости Anritsu(114)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(612)
Новости Metrel(20)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(79)
Новости Rohde & Schwarz(517)
Новости Tektronix(207)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(103)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

С Всемирным днем метрологии!

С Всемирным днем метрологии!

20.05.2009

Уважаемые коллеги!

Управление метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии сердечно поздравляет каждого из Вас лично, коллективы метрологических научно-исследовательских институтов, коллективы центров стандартизации, метрологии и сертификации, а также наших зарубежных коллег-метрологов с Всемирным днем метрологии!

Под каким бы девизом не праздновался этот день — «Измерения в окружающей среде», «Измерения в спорте», «Измерения в торговле» — мы с Вами помним всегда, что метрология — это живая, развивающаяся наука, области применения которой отличаются большим разнообразием, и одновременно метрология - одна из надежных, привычных опор в нашем быстроменяющемся мире.

Директор МБМВ Э.Дж. Воллард в своем послании по поводу празднования Всемирного дня метрологии особо подчеркнул огромное значение связи измерительных работ, проводимых метрологами всего мира, с решением крупнейших международных проблем. Это то, к чему всегда стремились метрологи.

Позвольте пожелать Вам всяческих успехов в профессиональной деятельности, счастливого празднования Всемирного дня метрологии, благополучия в Ваших семьях и крепкого здоровья!

От имени Управления метрологии
Начальник Управления метрологии В.М. Лахов
20 мая 2009 г.



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
09.08.1776
Родился итальянский ученый, физик и химик