English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(488)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(568)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Встреча с делегацией Кубы

Встреча с делегацией Кубы

30.05.2015

24 апреля 2015 года состоялась встреча руководства ВНИИМС и ВНИИОФИ с делегацией Республики Куба в составе: Заместитель Министра по науке и технологиям Данило Алонсо Медерос и Фернандо Аззура Родригес, Директор Национальной метрологической службы.

По итогам встречи было принято решение разработать программу двухстороннего сотрудничества в области метрологии между Российской Федерацией и Республикой Куба.

В ходе встречи стороны представили свои организации, обсудили тематику дальнейшего сотрудничества России и Кубы в области метрологии. В завершение кубинскими гостями были осмотрены лаборатории ВНИИМС и ВНИИОФИ, а также Центр метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии.

ФГУП «ВНИИМС»



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть