English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(458)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(532)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(418)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(79)
Новости Росстандарта(109)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Tektronix в России

Компания Tektronix в России

27.07.2009

Читайте интервью Шамиля Насретдина (Mr. Samil Nasretdin) в августовском номере журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы»!

В один из теплых летних дней в непринужденной обстановке уютного дворика одного из московских ресторанов давний читатель нашего журнала Шамиль Насретдин, глава московского представительства компании Tektronix, ответил на несколько вопросов. Г-н Ш.Насретдин высказал свое мнение о кризисе, о конкуренции и о стратегии развития компании Тектроникс, в частности, на российском рынке.

По мнению г-на Насретдина в условиях мирового экономического кризиса рынок измерительной техники претерпит изменения, т.к. пользователи электронной аппаратуры станут более детально выбирать оборудование, отдавая предпочтение наиболее функциональным приборам с хорошим сочетанием цена-качество. Большинство инженеров, занятых разработкой встраиваемых систем или устройств со смешанными (аналого-цифровыми) сигналами, отдадут предпочтение осциллографам смешанных сигланов. Также, ключевую роль в современных условиях рынка будет играть большой выбор опций, программных приложений и аксессуаров, расширяющих возможности по применению приборов и делающих их использование более удобным.

Полностью интервью можно прочитать в августовском номере журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы».



Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 3 Июнь 2018
КИПиС 2018 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть