English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

V Всероссийская Научно-Техническая Конференция

V Всероссийская Научно-Техническая Конференция

02.08.2015

С 07 по 12 сентября 2015 в «Сочи - Бриз Отель» состоится V Всероссийская Научно-Техническая Конференция «Проблемы метрологического обеспечения в здравоохранении и производстве медицинской техники».

Цели конференции:
Совершенствование средств и методов метрологического обеспечения в области здравоохранения и производства медицинской техники.

Тематика конференции:
Вопросы метрологического обеспечения в области здравоохранения, лечебно-диагностических и реабилитационных услугах санаторно-курортного комплекса, а также в производстве, испытаниях и сертификации медицинской техники, испытаниях и поверке средств измерений медицинского назначения, аттестации методик выполнения измерений.

Участие в конференции платное.
Для участия необходимо направить заявку и тезисы доклада до 25 августа 2015.

По данной ссылке можно ознакомиться с условиями оплаты и проживания, а также найти правила оформления тезисов докладов, форму заявки и необходимую контактную информацию.

ФГУП «ВНИИОФИ»



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии