English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(457)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(532)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(416)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(79)
Новости Росстандарта(108)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение производства»

Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение производства»

31.10.2015

Принять участие в семинаре по организации метрологического обеспечения производства приглашаются руководители предприятий, технические директора,специалисты проектных и монтажных организаций, представители энергопотребляющих организаций, специалисты служб учета и КИП, метрологи и главные энергетики предприятий, представители ЦСМов, производители средств автоматизации и метрологического оборудования, специалисты различных отраслей промышленности.

Даты и место проведения мероприятия: 16 — 19 ноября 2015 года, Санкт-Петербург, Конференц-центр гостиницы «Азимут».

В ходе программы семинара будут рассматриваться следующие вопросы:

  • Основные положения метрологии
  • Законодательные основы обеспечения единства измерений: Федеральный закон «Об обеспечении единства измерений» от 26.06.2008 №102-ФЗ и подзаконные акты
  • Законодательные основы аккредитации в области обеспечения единства измерений: Федеральный закон «Об аккредитации в национальной системе аккредитации» от 28.12.2013 №412-ФЗ и подзаконные акты·
    и др.

Подробную программу можно посмотреть по данной ссылке.

Заявки на участие принимаются до 15.11.15.

Подробнее об условиях участия

ЦНТС Диалог



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2018
КИПиС 2018 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала