English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

ВНИИМ посетила делегация NIM

ВНИИМ посетила делегация NIM

24.10.2015

1 октября 2015 г. в ФГУП «ВНИИМ им. Д.И.Менделеева» состоялся прием делегации Китайского национального института метрологии (NIM). Делегацию возглавлял директор NIM Фан Сян, которого сопровождали сотрудники NIM: руководитель отдела международного сотрудничества Гао Вэй, руководитель отдела механики и акустики Национального института метрологии Жан Юэ, заместитель руководителя отдела системы качества и метрологических услуг Жу Мэйна, заместитель руководителя отдела оптики Линь Яндон, и заместитель руководителя отдела научно-технического управления и международного сотрудничества Ван Ю.

Со стороны ВНИИМ в приеме участвовали директор ВНИИМ Н. Ханов, заместитель директора по международным работам Ю. Кустиков, руководитель отдела международного сотрудничества и взаимного признания А. Дятлев, ученый секретарь Н. Звягин, а также руководители ряда отделов государственных эталонов

В ходе визита делегации NIM во ВНИИМ обсуждались вопросы сотрудничества институтов в рамках подписанного в 2013 году Меморандума о взаимопонимании между NIM и ВНИИМ. Специалисты NIM были ознакомлены с работой отделов, а также посетили Метрологический музей Росстандарта.

Помимо этого, делегации NIM были переданы для изучения предложения по темам сотрудничества, предполагающим заключение взаимовыгодных контрактов.

Руководитель китайской делегации выразил руководству института глубокую благодарность за организацию и проведения приема и пригласила руководителей ВНИИМ нанести NIM ответный визит для подписания возможных соглашений.

Источник: www.gost.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений