English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(414)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(501)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(239)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(378)
Новости Tektronix(177)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(86)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Осциллограф MSO70000 компании Tektronix назван финалистом Best in Test в категории "осциллографы" журнала Test & Measurement World

Осциллограф MSO70000 компании Tektronix назван финалистом Best in Test в категории "осциллографы" журнала Test & Measurement World

13.01.2010

По мере увеличения частоты шин данных и разнообразия их типов, потребность в визуализации скоростных цифровых шин гигабитного диапазона одновременно с отладкой аналоговых сигналов с частотами выше 4 ГГц становятся критической для пользователя. Этим требованиям прекрасно удовлетворяет новая серия осциллографов смешанных сигналов MSO70000, объединяющая в одном приборе функции визуализации и временные измерений многоканального цифрового сигнала с прецизионными измерениями аналогового сигнала с помощью высококлассного осциллографа реального времени..

Приборы позволяют захватывать сигнал одновременно по 20 каналам имеют (4 аналоговых и 16 логических), аналоговый диапазон частот в зависимости от модели варьируется от 4 – до 20 ГГц, а временное разрешение цифровых каналов достигает 80 пс. Представители компании Tektronix полагают, что осциллограф MSO70000 – идеальный инструмент для отладки и верификации разработок, содержащих высокоскоростные сигналы, например, память DDR, высокоэффективные специализированные интегральные схемы, программируемые вентильные матрицы, интегрированные системы на чипе (SoC), а также цифровые РЧ-сигналы. Удобные аксессуары пробников, позволяющие впаивать их в измеряемую систему, способствуют лёгкому подключению прибора в печатные платы плотного монтажа, а с помощью технологии iCapture можно осуществлять визуализацию анаологовой формы сигналов на любом подключенном цифровом канале.

www.tektronix.com



Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 3 Июнь 2017
КИПиС 2017 № 3
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений