English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(487)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(566)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(465)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Встреча российских и немецких метрологов в Берлине

Встреча российских и немецких метрологов в Берлине

25.09.2016

В период 5-7 сентября 2016 г. Специалисты ФГУП «ВНИИОФИ» приняли участие в рабочей встрече в рамках Программы научного сотрудничества российских и немецких метрологических институтов.

Российскую делегацию возглавил заместитель руководителя Росстандарта, Сергей Голубев, во встрече участвовали: директор ВНИИОФИ Крутиков В.Н. (Президент КООМЕТ), а так же руководители ВНИИМС, ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, ВНИИФТРИ. С немецкой стороны - директор национального метрологического института Германии (PTB) И. Ульрих, руководитель берлинского отделения PTB Г. Ульм, и руководители научных подразделений.

Стороны обсудили результаты реализации Программы научного сотрудничества, ее перспективы, а так же актуальные вопросы в области законодательной и прикладной метрологии.

Основной темой для встречи стало рассмотрение хода выполнения работ, выполняемых специалистами ВНИИОФИ совместно с немецкими партнерами из PTB:

  1. Исследование зависимости спектральной излучательной способности реальных объектов;
  2. Разработка и исследование высокотемпературной реперной точки WC-C (3021 К) вольфрам-углеродной перитектики;
  3. Исследование пространственного распределения энергетической яркости синхротронного сгустка накопительного кольца и исследование стабильности и воспроизводимости вторичных эталонных приемников УФ излучения с использованием синхротронного излучения.

По итогам встречи стороны подтвердили намерения дальнейшей реализации программы.

www.vniiofi.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала