English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(489)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(569)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(466)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Семинар «Аккредитация метрологической службы юридического лица в области обеспечения единства измерений и признания ее компетентности в проведении работ по поверке средств измерений»

Семинар «Аккредитация метрологической службы юридического лица в области обеспечения единства измерений и признания ее компетентности в проведении работ по поверке средств измерений»

28.01.2017

Научно-практический семинар «Аккредитация метрологической службы юридического лица в области обеспечения единства измерений и признания ее компетентности в проведении работ по поверке средств измерений» пройдёт 14-16 февраля 2017 года в Санкт-Петербурге.

Место проведения: Конференц-центр гостиницы «Азимут», Лермонтовский пр.,43/1.

Семинар предназначен для представителей организаций готовящихся к аккредитации, подтверждению компетентности или расширению области аккредитации.

В ходе семинара будут обсуждаться следующие вопросы:

  • Нормативные документы системы аккредитации
  • Система менеджмента качества. Руководство по качеству
  • Процедуры аккредитации
  • Подтверждение компетентности
  • Расширение области аккредитации
  • Требования к аккредитованным лицам
    и другие темы.

Участие в семинаре платное. Об условиях участия Вы можете узнать по данной ссылке.

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала