English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(483)
Новости Anritsu(106)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(558)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(261)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(454)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(129)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар «Метрологическое обеспечение производства»

Семинар «Метрологическое обеспечение производства»

11.02.2017

Научно-практический семинар «Метрологическое обеспечение производства» пройдёт с 27 по 28 февраля 2017 года в Санкт-Петербурге.

Место проведения: Конференц-центр гостиницы «Азимут», Лермонтовский пр.,43/1.

Принять участие в семинаре по организации метрологического обеспечения производства приглашаются руководители предприятий, технические директора,специалисты проектных и монтажных организаций, представители энергопотребляющих организаций, специалисты служб учета и КИП, метрологи и главные энергетики предприятий, представители ЦСМов, производители средств автоматизации и метрологического оборудования, специалисты различных отраслей промышленности.

В программе семинара:

  • Основные положения метрологии
  • Законодательные основы обеспечения единства измерений: Федеральный закон «Об обеспечении единства измерений» от 26.06.2008 №102-ФЗ и подзаконные акты.
  • Законодательные основы аккредитации в области обеспечения единства
    измерений: Федеральный закон «Об аккредитации в национальной системе
    аккредитации» от 28.12.2013 №412-ФЗ и подзаконные акты.
    и другие темы.

Подробная программа представлена по данной ссылке.

С условиями участия можно ознакомиться здесь.

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Февраль 2019
КИПиС 2019 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала