English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(513)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(591)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(490)
Новости Tektronix(199)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(135)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новинка от компании Tektronix

Новинка от компании Tektronix

24.01.2008

Вчера, 23 января, в гостинице "Золотое кольцо" Москва, состоялась пресс-конференция компании Тектроникс. На пресс-конференции был представлен новый прибор. Бурное развитие цифровых технологий привело к появлению новых требований к контрольно-измерительному оборудованию. Подробности читайте в февральском номере журнала "Контрольно-измерительные приборы и системы" в рубрике НОВОСТИ.


Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2019
КИПиС 2019 № 6
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.01.1880
Родился австрийский и нидерландский физик-теоретик