English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(443)
Новости Anritsu(98)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(523)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(251)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(399)
Новости Tektronix(186)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(73)
Новости Росстандарта(98)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

1-я школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Наноматериалы»

1-я школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Наноматериалы»

18.07.2008

В период 27-31 октября 2008 г. в Москве Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» и Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии проведут 1-ую школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Наноматериалы».

Целью школы является повышение квалификации специалистов в области метрологии и стандартизации центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий по направлению наноиндустрии, в том числе являющихся участниками системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА». На школе предполагается заслушать лекции ведущих российских и иностранных ученых по перспективным направлениям нанотехнологий, специалистов по метрологии и стандартизации в данной области.
Программа школы будет включать приглашенные обзорные и тематические лекции по актуальным проблемам нанометрологии. Время обзорных лекций - 45 мин., тематических лекций - 15 мин. Также будут представлены презентации современного метрологического и аналитического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей и предложено их обсуждение в режиме круглых столов.

Более подробную информацию информацию можно получить на сайте оганизаторов.



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 1 Февраль 2018
КИПиС 2018 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.02.1857
день рождения