1-я школа «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Наноматериалы»

18.07.2008

В период 27-31 октября 2008 г. в Москве Государственная корпорация «Российская корпорация нанотехнологий» и Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии проведут 1-ую школу «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии. Наноматериалы».

Целью школы является повышение квалификации специалистов в области метрологии и стандартизации центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий по направлению наноиндустрии, в том числе являющихся участниками системы добровольной сертификации продукции наноиндустрии «НАНОСЕРТИФИКА». На школе предполагается заслушать лекции ведущих российских и иностранных ученых по перспективным направлениям нанотехнологий, специалистов по метрологии и стандартизации в данной области.
Программа школы будет включать приглашенные обзорные и тематические лекции по актуальным проблемам нанометрологии. Время обзорных лекций - 45 мин., тематических лекций - 15 мин. Также будут представлены презентации современного метрологического и аналитического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей и предложено их обсуждение в режиме круглых столов.

Более подробную информацию информацию можно получить на сайте оганизаторов.