English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Электронные приборы в микроэлектронике и нанотехнологиях

В настоящем обзоре рассматриваются измерительные приборы, которые с успехом могут использоваться в новых направлениях развития микроэлекроники и нанотехнологиях. Как известно, американский институт инженеров электротехники и электроники IEEE выпустил первый стандарт в области нанотехнологий. В настоящее время в разработке приборов для высокоточных измерений для полупроводникового и микроэлектронного производства лидирует фирма Keithley.

Автор(ы):  Афонский А.А. / Дьяконов В.П.
Номер журнала:  КИПиС 2008 № 5
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.10.1608
Родился итальянский математик и физик, ученик Галилея