English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Отладка и проверка высокопроизводительных схем, использующих смешанные сигналы

Cовременные встраиваемые вычислительные системы постоянно наращивают мощность за счет применения высокоскоростных шин и стандартных подсистем, а также повышения степени интеграции ИМС. Но параллельно с этим растет их сложность и чувствительность к качеству сигнала, что замедляет диагностику и отладку.

И хотя многие технологии, широко применяемые в высокопроизводительных цифровых системах, опираются на существующие стандарты, основной целью тестирования является проверка синхронизации всех элементов и их взаимодействия в составе системы. Устройства могут состоять из нескольких подсистем, некоторые из которых должны взаимодействовать друг с другом и с внешним оборудованием. В этом случае приходится расширять тестирование, проверяя синхронность работы встроенных функций и взаимодействие подсистем друг с другом. Для такого тестирования нужны средства, позволяющие оценивать поведение не только отдельных элементов, но и всей системы в целом.

В статье рассматриваются методы диагностики и отладки сложных систем при помощи осциллографов смешанных сигналов MSO70000 компании Tektronix.  


Автор(ы):  Тревор Смит (Trevor Smith)
Номер журнала:  КИПиС 2009 № 6
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения