English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(454)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(73)
Новости Keysight Technologies(530)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(255)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(414)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(78)
Новости Росстандарта(106)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Принципы импульсного тестирования новых типов энергонезависимой памяти

Флэш-память на транзисторах с плавающим затвором впервые получила широкое распространение в 1990-х гг. и до недавнего времени вполне отвечала требованиям, предъявляемым к энергонезависимой памяти в таких устройствах, как цифровые камеры, MP3 плееры и смартфоны. Тем не менее, определенные ограничения, связанные с ее скоростью, износом, потребляемой мощностью и объемом, заставляли исследователей обращаться к новым технологиям энергонезависимой памяти, таким как память с фазовым переходом (PCM/PRAM), флэш-память с ловушками заряда (CTF/ SONOS), резистивная память (ReRAM), сегнетоэлектрическая память (FeRAM), магниторезистивная память (MRAM) и т.д.

Автор(ы):  Питер Дж. Халберт (Peter J. Hulbert)
Номер журнала:  КИПиС 2014 № 1
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала