English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(454)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(73)
Новости Keysight Technologies(530)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(255)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(414)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(78)
Новости Росстандарта(106)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Снятие прямой и обратной вольтамперной характеристики диода при помощи источника измерителя Keithley 2400

Полупроводники уже давно получили широкое применение в самых различных областях. Практически не один электронный аппарат не обходится без использования полу- проводниковых электронных компонентов, будь то диоды, тиристоры, транзисторы и т.п. Поэтому, естественно, что одной из наиболее востребованных измерительных задач является их автоматическое тестирование и измерение характеристик. Относительно недорогим решением данной измерительной задачи может стать использование источников-измерителей Keithley серий 2400 и 2600A/B в сочетании с графической средой LabTracer. Благодаря графическому интерфейсу LabTracer управление прибором осуществляется с персонального компьютера, а задание параметров тестирования, измерение характеристик компонентов и графическое отображение вольт-амперных характеристик производится без программирования.

Номер журнала:  КИПиС 2014 № 2
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала