English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новости компаний

RSS

06.10.2017 | 80
Семинар "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ" Компания National Instruments приглашает принять участие в семинаре "ВЧ Платформа National Instruments для разработки и тестирования радиосредств и ЭКБ", который пройдёт 10 октября 2017 в Киеве. В ходе семинара будут представлены новинки компании для автоматизации измерений и тестирования компонентов и узлов электронных и радиотехнических систем, а также решения для цифровой обработки радиосигналов, макетирования сложных СВЧ систем, тестирования радиоэлектронных устройств и ЭКБ.

22.09.2017 | 126
VII Петербургский форум National Instruments Компания National Instruments приглашает принять участие в VII Петербургском форуме для предприятий радиоэлектронной промышленности. Мероприятие пройдёт 27 сентября 2017 г в Санкт-Петербурге. Технический семинар будет посвящен применению технологий модульных приборов и программно-определяемых радиоизмерительных систем при решении исследовательских и инженерных задач радиотехники.

14.09.2017 | 129
Технический семинар NI “Проектирование и разработка систем автоматизированных испытаний и КПА: от тестеров ЭКБ до имитации внешней среды радиоэлектронных систем” 19 сентября 2017 в Москве компания National Instruments проведёт технический семинар, посвященный применению технологий модульных приборов для построения автоматизированных систем тестирования, КПА и тестеров ЭКБ. Будут рассмотрены такие задачи, как создание стендов тестирования и КПА для блоков и систем различной направленности, входной и выходной контроль ЭКБ, интеллектуальное тестирование сложных систем с помощью полунатурного моделирования и программно-аппаратной имитации подсистем.

06.09.2017 | 122
NI анонсирует выпуск монополосной модели векторного приемопередатчика второго поколения для наиболее востребованных приложений тестирования приемопередатчиков Компания National Instruments, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и научным работникам решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о выпуске монополосной модели векторного приемопередатчика (Vector Signal Transceiver (VST).

18.08.2017 | 132
Вебинар National Instruments “Основы и терминология сбора данных” 22 августа компания National Instruments проводит вебинар «Основы и терминология сбора данных». В ходе вебинара предлагается изучить основы и терминологию сбора данных, а также основные составляющие процесса и принципы выполнения измерений.

18.07.2017 | 188
Семинар National Instruments «LabVIEW Developer Days 2017» 29 июля 2017 в Москве компания National Instruments проводит крупнейшее мероприятие, посвященное программированию – LabVIEW Developer Days. Данный семинар предназначен для инженеров и исследователей, которые хотят улучшить свои навыки в программировании LabVIEW.

12.07.2017 | 208
NI интегрирует времячувствительную сеть (TSN) в платформу CompactDAQ Компания National Instruments, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и учёным решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о выпуске двух новых Ethernet-шасси с несколькими слотами. В шасси cDAQ-9185 и cDAQ-9189 на основе новейших стандартов Ethernet, реализована новая технология синхронизации по времени, развивающая усилия NI в области времячувствительных сетей (Time Sensitive Networking - TSN), и надежного оборудования CompactDAQ для распределенных измерений.

03.07.2017 | 232
Компания National Instruments приглашает на вебинар «Знакомство с модулем LabVIEW FPGA» Вебинар пройдёт 7 июля 2017 г. Узнайте, как программный модуль LabVIEW FPGA позволяет воспользоваться методами графической разработки в LabVIEW на реконфигурируемой ПЛИС от NI. Проводите измерения при помощи пользовательских систем ввода-вывода и управляйте оборудованием без его описания на низком уровне, без разработок уровня печатной платы.

21.06.2017 | 329
NI объявляет о выпуске LabVIEW следующего поколения National Instruments, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и учёным решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о выпуске LabVIEW NXG 1.0, первой версии следующего поколения LabVIEW – программного обеспечения для проектирования инженерных систем. LabVIEW NXG объединяет конфигурационное ПО и специализированные языки программирования, используя инновационный, новый подход к автоматизации измерений, который позволяет специалистам в конкретных областях знаний сосредоточиться на самом главном – на своей задаче, а не на инструменте, с помощью которого она будет решаться.

16.06.2017 | 319
NI объявляет о выпуске первого 28 ГГц SDR для исследований, ориентированных  на стандарты 3GPP и Verizon 5G Компания National Instruments, разработчик систем, основанных на платформах, которые позволяют инженерам и учёным решать сложнейшие инженерные задачи, сообщает о выпуске 28 ГГц радиоголовки для приемопередающей системы миллиметрового диапазона (mmWave Transceiver System). Эта серия позволяет создать первый коммерчески доступный полный трансивер такого рода, который может в реальном времени передавать и/или принимать широкополосные сигналы с полосой частот до 2 ГГц, покрывая спектр от 27,5 ГГц до 29,5 ГГц.


Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения