English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(426)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Новые характериографы Keithley

Новые характериографы Keithley

19.05.2013

Компания Keithley Instruments, Inc., мировой лидер в сфере производства многофункциональных электрических контрольно-измерительных приборов и систем, представила семь новых конфигураций аппаратно-программного обеспечения и измерительной оснастки для снятия характеристик мощных устройств напряжением до 3000 В и током до 100 A.

Данные характериографы предлагают самое экономичное в отрасли решение для снятия характеристик растущего числа мощных полупроводниковых приборов, включая изделия на основе двуокиси кремния (SiC) и нитрида галлия (GaN).

Данные системы подают питание, необходимое для большинства устройств силовой электроники, и оптимизированы для измерения характеристик в ходе научных исследований, при испытаниях надежности и анализе отказов.

Они могут использоваться разработчиками мощных электронных проборов, техниками входного контроля и многими другими специалистами. Дополнительная информация о новых характериографах Keithley приведена на странице http://www.keithley.com/products/semiconductor/pct/?mn=PCT.

В отличие от решений, требующих размещения всего оборудования на одном шасси, все семь новых конфигураций от Keithley предлагают гибкие возможности недорогого добавления новых измерительных каналов по мере необходимости, не требуя возврата системы на завод для доукомплектования.
Например, можно начать c параметрического характериографа начального уровня, а затем расширить его возможности (то есть увеличить выходное напряжение и ток) за счет дополнительных источников-измерителей System SourceMeter®. Шесть моделей SourceMeter можно соединять в различных комбинациях, получая оптимальные сочетания напряжения, тока и мощности для решения конкретных задач. Технология виртуальной объединительной платы TSP Link® от Keithley облегчает установку любого числа входных и выходных каналов, которые могут полностью и автоматически синхронизироваться с другими приборами SourceMeter в системе.

Все семь конфигураций включают последнюю версию программного обеспечения Keithley ACS Basic Edition (Пакет для автоматической характеризации). Данный пакет поддерживает новейшие источники-измерители Keithley и максимально использует для источников серии 2600B преимущества технологии TSP-Link, обеспечивающей синхронизацию между ними с точностью до 500 нс.

Столь точная синхронизация максимизирует возможности импульсного режима новых мощных моделей System SourceMeter 2651A и 2657A. Windows-совместимый пакет ACS Basic Edition предлагает инструменты управления и анализа, удобные для характеризации мощных устройств, включая полные библиотеки для параметрического тестирования полевых МОП транзисторов, биполярных транзисторов, симисторов, диодов, БТИЗ и электронных приборов других типов.

Программный режим «трассировки», использующий экранный ползунок и работающий подобно ручке управления традиционных аналоговых характериографов, позволяет интерактивно управлять уровнями напряжения и тока и наблюдать реакцию устройства силовой электроники в реальном времени. Программный «параметрический» режим предлагает графический интерфейс, основанный на заполнении полей стандартной формы и позволяющий точно сконфигурировать тест, а также полный набор инструментов для точного извлечения значений параметров. Кроме того, все семь пакетов включают достаточное число примеров для обучения и демонстрации.

ЭЛИКС — официальный дистрибьютор Keithley


О компании:  Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ