English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Компания Keithley добавила возможность проведения тестов силовых приборов на уровне полупроводниковых пластин к пакету программ для автоматизированного измерения параметров

Компания Keithley добавила возможность проведения тестов силовых приборов на уровне полупроводниковых пластин к пакету программ для автоматизированного измерения параметров

11.06.2013

Компания Keithley Instruments, Inc., мировой лидер в сфере производства электронных контрольно-измерительных приборов и систем, объявила о расширении своего пакета программ для автоматизированного измерения параметров (ACS), который дополняет ее растущее семейство решений для силовых полупроводниковых приборов. Пакет ACS оптимизирован для автоматизированных измерений на полупроводниковых пластинах, включая автоматическое измерение характеристик, анализ надежности и тестирование заведомо хороших кристаллов. Обновленная версия ACS V5.0 расширяет функции системных источников-измерителей SourceMeter® Keithley модели 2651A (большой ток) и модели 2657A (высокое напряжение), позволяя выполнять автоматизированное тестирование на уровне полупроводниковых пластин таких силовых полупроводниковых приборов, как силовые МОП транзисторы, биполярные транзисторы с изолированным затвором, биполярные транзисторы, диоды и т.п. Чтобы узнать больше, посетите страницу http://www.keithley.com/products/semiconductor/characterizationsoftware.

Версия ACS V5.0 включает целый ряд усовершенствований:

  • Библиотека силовых устройств для применения с системными источниками-измерителями SourceMeter® модели 2651A (до 50 A или до 100 A при подключении двух приборов) и модели 2657A (до 3000 В), которые поддерживают тестирование многовыводных силовых компонентов в сочетании с маломощными приборами SourceMeter серии 2600B или анализатором параметров полупроводниковых приборов 4200-SCS, для ускорения и упрощения создания сценариев тестирования силовых полупроводниковых приборов, таких как силовые МОП транзисторы, биполярные транзисторы с изолированным затвором, биполярные транзисторы, диоды и т.п.
  • Поддержка аппаратного сканирования, распознания и управления конфигурацией мощных моделей 2651A и 2657A, что позволяет пользователям быстро подключать эти приборы к ПК, устанавливать соединение и приступать к тестированию.
  • Поддержка источников-измерителей серии 2600, оборудованных интерфейсом TSP-Link®, которые используют технологию встроенного процессора сценариев испытаний (TSP®) для организации многопроцессорной среды, обеспечивающей высокую параллельную производительность, одновременно ускоряя и упрощая разработку тестов.
  • Примеры тестов, таких как высоковольтное тестирование надежности на уровне кремниевой пластины (WLR), которые опираются на широкий диапазон функций тестирования надежности маломощных устройств, предлагаемых в предшествующих версиях ACS, что дает пользователям превосходную отправную точку для быстрой модификации и создания новых тестов.
  • Поддержка измерения ВФХ в диапазоне ±200 В опцией силовых измерений модели 4200-CVU-PWR C-V для анализатора 4200-SCS, которая позволяет измерять ВАХ и ВФХ в широких пределах для наиболее полного определения характеристик силовых полупроводниковых компонентов.

О пакете ACS

Программный пакет ACS объединяет несколько приборов в единую измерительную систему, оптимизированную по гибкости, скорости и производительности тестирования и анализа. Его интуитивный графический интерфейс упрощает настройку измерительных приборов, выбор параметров измерения, выполнение измерений ВАХ и отображение результатов. Пользователи могут пройти весь путь от создания нового теста до измерения параметров новых устройств за малую часть того времени, которое они потратили бы, применяя старые методы разработки тестов. Не менее важно и то, что ACS предлагает все инструменты, необходимые для настройки теста, анализа данных и экспорта результатов – не выходя из среды ACS. Пакет ACS предназначен для выполнения тестов с помощью полуавтоматических и полностью автоматических зондовых станций. Кроме того, компания Keithley предлагает программное обеспечение ACS Basic Edition для измерения параметров полупроводниковых приборов с помощью ручных пробников или тестовой оснастки.


О компании:  Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений