English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(427)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(510)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(244)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(57)
Новости Rohde & Schwarz(386)
Новости Tektronix(180)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(94)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Онлайн-семинар компании Keithley: Сверхбыстрое определение вольт-амперной характеристики

Онлайн-семинар компании Keithley: Сверхбыстрое определение вольт-амперной характеристики

28.04.2010

Компания Keithley Instruments в этот четверг, 29 апреля 2010 г., проведет бесплатный онлайн-семинар посвященный методике быстрого определения вольт-амперных характеристик: «Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization».

В ходе семинара будет рассмотрена возрастающая необходимость быстрого определения вольт-амперных характеристик при тестировании широкого диапазона устройств и в ходе различных технологических процессов. Наиболее актуальна эта техника при тестировании энергонезависимой памяти устройств, например, флэш-памяти или памяти на основе фазового перехода (PCM или PRAM); изотермической характеризации полупроводниковых приборов SOI (технология silicon-on-insulator - «кремний на изоляторе») и составных полупроводников, а также при определении переходных характеристик новых материалов, таких как диэлектрики с высоким коэффициентом диэлектрической проницаемости (high-K dielectrics).

Для участия в семинаре необходимо зарегестрироваться, пройдя по ссылке: www.keithley.com/events/semconfs/webseminars.

Дата и время проведения:

  • Четверг, 29 апреля 2010 года, 15:00 (GMT +2) (17:00 по Москве)
  • Четверг, 29 апреля 2010 года, 14:00 (GMT -4) (22:00 по Москве)

Семинар рассчитан на один час.

Семинар «Fundamentals of Ultra-Fast I-V Device Characterization» рекомендован преподавателям, студентам, исследователям и инженерам, осуществляющим определение характеристик различных материалов, процессов и устройств.

Для тех, кто не сможет непосредственно, в режиме онлайн, принять участие в семинаре, на веб-сайте компании Keithley будет доступна архивная запись семинара.

www.keithley.com


О компании:  Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения