English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(475)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(546)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(69)
Новости Rohde & Schwarz(437)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(85)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Keithley Instruments проведет веб-семинар по методам измерения температурной нестабильности

Keithley Instruments проведет веб-семинар по методам измерения температурной нестабильности

13.12.2010

Компания Keithley Instruments приглашает принять участие в бесплатном техническом веб-семинаре “Fundamentals of BTI Bias Temperature Instability and State of the Art Measurement Methods”. Семинар посвящен основам температурной нестабильности (BTI) и современным методам проведения точных измерений.

Этот семинар поможет инженерам по надежности понимать принципы и осуществлять точные измерения температурной нестабильности (BTI) с использованием методов определения сверхбыстрых вольт-амперных характеристик (Ultra-Fast I-V). 

Дата и время
16 декабря 2010, четверг
16:00 по Московскому времени (GMT: 14:00)

На первой части семинара будет рассматриваются современная теория положительных и отрицательных BTI (PBTI и NBTI) в ультра тонкопленочных транзисторах. Вторая часть посвящена измерительным задачам и предлагает наиболее эффективные методы определения сверхбыстрых вольт-амперных характеристик.

Участники семинара узнают:

  • Современные теории, лежащие в основе моделирования NBTI и PBTI
  • Проблемы, связанные с определением деградации и восстановления BTI
  • О современных методах проведения измерений для моделирования и управления технологическими процессами
  • Ограничения метода Ultra-Fast I-V, включая шум Джонсона и другие
  • Советы по определению производительности системы

Семинар рассчитан на 1 час и предоставляет участникам возможность напрямую задать свой вопрос ведущим семинара и получить дополнительные сведения по этому важному вопросу.

Целевая аудитория

Этот семинар предназначен для тех, чья работа требует выполнения измерений для определения надежности полупроводников. Материал особенно полезен для студентов, техников, инженеров и специалистов, отвечающих за разработку испытательных систем и методологии тестирования для обеспечения надежности ультра-тонкопленочных транзисторов.

О докладчиках

  • Крис Хендерсон (Chris Henderson) - Президент и владельц Semitracks Incorporated. До Semitracks, Крис работал в качестве технического специалиста в Sandia National Laboratories и старшего инженера по надежности при Honeywell.
  • Пол Мейер (Paul Meyer) - старший технолог в подразделении полупроводниковых измерений Keithley Instruments, Кливленд, штат Огайо. До прихода в Keithley, Пол участвовал в проектировании оборудования для полупроводниковых плат.

Семинар будет транслироваться через Интернет и требует регистрации до начала мероприятия.

Участие в семинаре бесплатно, но количество мест ограничено, так что регистрируйтесь прямо сейчас!
Семинар проводится на английском языке.

Чтобы зарегистрироваться на этой веб-трансляции нажмите здесь: семинар.

Keithley Instruments
www.keithley.com


О компании:  Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.11.1711
Родился первый русский ученый-естествоиспытатель мирового значения, химик и физик