English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Бесплатный технический online семинар «Принципы параллельного тестирования надежности полупроводниковых приборов на уровне пластины (WLR)»

Бесплатный технический online семинар «Принципы параллельного тестирования надежности полупроводниковых приборов на уровне пластины (WLR)»

25.01.2012

Тематика семинара

Настоящий семинар направлен на выявление преимуществ и недостатков, связанных с параллельным тестированием WLR. Такая процедура широко применяется в период всего эксплуатационного периода полупроводника, от разработки до окончания производственного процесса. Скорость и точность тестирования нельзя назвать идеальными. Параллельное тестирование WLR обладает значительными преимуществами в сравнении с традиционными и передовыми измерениями WLR.

Зарегистрируйтесь прямо сейчас!

Цель:

Став участником данного семинара, вы приобретёте все необходимые знания, чтобы точно определять:

· Как оценивать скорость и влияние параллельного тестирования WLR на традиционные структуры надёжности системы

· Как оценивать традиционные структуры тестирования для использования в параллельной тестовой системе

· Источники погрешностей в измерительных процессах, препятствующих измерению WLR

· Типичные методы конфигурации, измерения и оптимизации

Целевая аудитория:

Семинар рекомендован инженерам-новичкам в технике проведения тестирования надёжности, инженерам-испытателям, которым необходимо ускорить процесс тестирования WLR, а также сотрудникам исследовательских лабораторий обеспечения качества и надёжности

О специальном госте:

Дэйв Роуз (Dave Rose), старший сотрудник, инженер по приложениям, компании Keithley Instruments в Кливленде (штат Огайо, США). Дейв присоединился к Keithley в 1987 году и примерно половину своей карьеры занимался инженерным проектированием, а другую половину - инженерными приложениями.

Когда?

Европа: четверг, 26 января, 2012

15:00 (центрально-европейское время)

14:00 (всемирное время)

Как зарегистрироваться?

Семинар будет проведён через интернет, но регистрация должна быть осуществлена заранее. Зарегистрируйтесь уже сегодня, чтобы получить место на семинаре. Участие бесплатное, но количество мест ограничено! После регистрации вы получите подтверждение и log-in.

Не упустите возможность узнать как можно больше о данном направлении!

Keithley Instruments

www.keithley.com


О компании:  Keithley Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений