English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Победы National Instruments в конкурсе Best in Test 2014

Победы National Instruments в конкурсе Best in Test 2014

10.03.2014

Осциллограф NI PXIе-5162 получил мировое признание и стал победителем “Best in Test - 2014”, который ежегодно проводит авторитетное американское издание Test & Measurement World.

Специалисты в области беспроводной связи используют методы графического системного проектирования для решения проблемы расширения радиоспектра. За приз в этой номинации боролись такие гиганты электронной промышленности, как Keithley Instruments, Agilent Technologies и др., но инновационные разработки команды высококвалифицированных специалистов были оценены по достоинству и получили заслуженное международное признание.

Также победителем в номинации "Test Support" стал модуль NI PXIe-8383mc, который позволяет соединять несколько измерительных систем и обеспечивать передачу данных со скоростями до 2,7 ГБ/сек и задержкой 5 мкс.

В номинации "Data Aqcuisition" победителем стала платформа cDAQ-9188XT, 8-ми слотовая модульная система сбора данных и управления, предназначенная для работы в жестких условиях, при температуре от -40°С до 70°С и уровне вибраций до 5g (шоковые вибрации 50g).

National Instruments


О компании:  National Instruments

Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"