EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новости КИПиС

RSS

01.03.2014 | 2557
II Научно-практическая конференция молодых ученых, аспирантов и специалистов «Метрология в ХХI веке» Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений, Совет молодых ученых и специалистов ВНИИФТРИ приглашают Вас принять участие в работе «Научно-практической конференции молодых ученых, аспирантов и специалистов «Метрология в ХХI веке», которая состоится «20» марта 2014г. в г.п. Менделеево (Московская область).
27.02.2014 | 1621
Международная конференция "Техническое регулирование. Стандартизация. Оценка соответствия: достижения, трудности, перспективы" 13 февраля 2014 года в Центре международной торговли (ЦМТ) состоялась Международная конференция "Техническое регулирование. Стандартизация. Оценка соответствия: достижения, трудности, перспективы", на которой обсуждалось сотрудничество Россия - Таможенный союз - ЕС в заявленных областях.
22.02.2014 | 1889
Международная конференция «Стандартизация и надзор за рынком: опыт США и России», г.Хьюстон (США) С 1 по 5 апреля 2014 года Комитет РСПП по техническому регулированию, стандартизации и оценке соответствия совместно с Росстандартом и организациями по стандартизации США проводит конференцию по обмену опытом в области стандартизации и надзора за рынком.
16.02.2014 | 1714
Семинар "Организация службы анализа отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры" Семинар будет проведён 27 февраля 2014 в Москве, в гостиничном комплексе "Измайлово-Альфа".
15.02.2014 | 1576
В Государственную Думу внесен проект закона "О внесении изменений в отдельные законодательные акты Российской Федерации в связи с принятием Федерального закона "Об аккредитации в национальной системе аккредитации" Так, законопроектом предусмотрено внесение изменений в федеральные законы «О семеноводстве», «О санитарно-эпидемиологическом благополучии населения», «О техническом регулировании», «О связи», «Об обеспечении единства измерений», «О защите прав юридических лиц и индивидуальных предпринимателей при осуществлении государственного контроля (надзора) и муниципального контроля», «Об организации предоставления государственных и муниципальных услуг», «О техническом регулировании».
09.02.2014 | 1776
Росстандарт уведомляет о начале процедуры формирования нового состава Общественного совета В соответствии с п. 2 приказа Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии от 30.12.2013 г. № 1537 "Об утверждении положения об Общественном совете при Федеральном агентстве по техническому регулированию и метрологии", Росстандарт уведомляет о начале процедуры формирования нового состава Общественного совета. Порядок формирования Общественного совета указан в разделе 3 Положения об Общественном совете при Федеральном агентстве по техническому регулированию и метрологии.
29.01.2014 | 1892
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test).
29.01.2014 | 2771
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Программное обеспечение/тестирование встраиваемых систем (Software/Embedded test) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Программное обеспечение/тестирование встраиваемых систем (Software/Embedded test).
28.01.2014 | 1865
Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Сетевое тестирование (Network test) Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.
Вашему вниманию представляются финалисты в категории Сетевое тестирование (Network test).

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.